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数学家证明闪存记忆单元缺陷可充当指纹

新发现的方法可创造出一种无法被伪造的电子闪存钥匙。闪存记忆单元在大量的读写周期之后会不可避免的出现损伤导致芯片性能下降。

研究人员利用 Raspberry Pi 测试发现,这种积累的损伤几乎不可能有两个会是相同的,而且它们具有长期的不变性。                     

数学家证明闪存记忆单元缺陷可充当指纹

本文素材来自互联网

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